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https://hdl.handle.net/20.500.12008/47018
Cómo citar
Título: | All-inversion region gm/ID methodology for RF circuits in FinFET technologies |
Autor: | Fiorelli, Rafaella Núñez, Juan Silveira, Fernando |
Tipo: | Ponencia |
Palabras clave: | FinFETs, Capacitance, Radio frequency, Inductors, Phase noise |
Fecha de publicación: | 2018 |
Resumen: | In the context of IoT applications, together with the use of deep-submicron technologies as FinFET, this paper presents a revision of the gm/ID methodology for radio-frequency analog front-end circuits. Particularly, this methodology is applied for the design of LC-VCOs in the 5.8-GHz band using 20-nm FinFET transistors. To incorporate the FinFET model into the design flow, a semi-empirical model is extracted from electrical simulations. To show the good performance of the methodology, an LC-VCO design, picked from the calculated design maps, is electrically simulated, achieving good match regarding oscillation frequency and phase noise |
Descripción: | Presentado y publicado en International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS), Montreal, QC, Canada, 2018 |
Citación: | Fiorelli, R, Núñez, J, Silveira, F. "All-inversion region gm/ID methodology for RF circuits in FinFET technologies" Publicado en: Proceedings of the 16th IEEE International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS), Montreal, QC, Canada, 24-27 jun., 2018, pp. 170-173, doi: 10.1109/NEWCAS.2018.8585627 |
Departamento académico: | Electrónica |
Grupo de investigación: | Microelectrónica |
Aparece en las colecciones: | Publicaciones académicas y científicas - Instituto de Ingeniería Eléctrica |
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