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Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: https://hdl.handle.net/20.500.12008/47018 Cómo citar
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dc.contributor.authorFiorelli, Rafaellaes
dc.contributor.authorNúñez, Juanes
dc.contributor.authorSilveira, Fernandoes
dc.date.accessioned2024-11-13T19:24:42Z-
dc.date.available2024-11-13T19:24:42Z-
dc.date.issued2018es
dc.date.submitted20241113es
dc.identifier.citationFiorelli, R, Núñez, J, Silveira, F. "All-inversion region gm/ID methodology for RF circuits in FinFET technologies" Publicado en: Proceedings of the 16th IEEE International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS), Montreal, QC, Canada, 24-27 jun., 2018, pp. 170-173, doi: 10.1109/NEWCAS.2018.8585627es
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12008/47018-
dc.descriptionPresentado y publicado en International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS), Montreal, QC, Canada, 2018es
dc.description.abstractIn the context of IoT applications, together with the use of deep-submicron technologies as FinFET, this paper presents a revision of the gm/ID methodology for radio-frequency analog front-end circuits. Particularly, this methodology is applied for the design of LC-VCOs in the 5.8-GHz band using 20-nm FinFET transistors. To incorporate the FinFET model into the design flow, a semi-empirical model is extracted from electrical simulations. To show the good performance of the methodology, an LC-VCO design, picked from the calculated design maps, is electrically simulated, achieving good match regarding oscillation frequency and phase noisees
dc.languageenes
dc.rightsLas obras depositadas en el Repositorio se rigen por la Ordenanza de los Derechos de la Propiedad Intelectual de la Universidad De La República. (Res. Nº 91 de C.D.C. de 8/III/1994 – D.O. 7/IV/1994) y por la Ordenanza del Repositorio Abierto de la Universidad de la República (Res. Nº 16 de C.D.C. de 07/10/2014)es
dc.subjectFinFETses
dc.subjectCapacitancees
dc.subjectRadio frequencyes
dc.subjectInductorses
dc.subjectPhase noisees
dc.titleAll-inversion region gm/ID methodology for RF circuits in FinFET technologieses
dc.typePonenciaes
dc.rights.licenceLicencia Creative Commons Atribución - No Comercial - Sin Derivadas (CC - By-NC-ND 4.0)es
udelar.academic.departmentElectrónicaes
udelar.investigation.groupMicroelectrónicaes
Aparece en las colecciones: Publicaciones académicas y científicas - Instituto de Ingeniería Eléctrica

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