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Campo DC Valor Lengua/Idioma
dc.contributor.authorBarragán, Manuel Jes
dc.contributor.authorFiorelli, Rafaellaes
dc.contributor.authorVázquez, Diegoes
dc.contributor.authorRueda, Adoraciónes
dc.contributor.authorHuertas, José Luises
dc.date.accessioned2023-08-01T20:33:23Z-
dc.date.available2023-08-01T20:33:23Z-
dc.date.issued2010es
dc.date.submitted20230801es
dc.identifier.citationBarragan, M.J., Fiorelli R., Vazquez, D., Rueda, A., Huertas, JL. On-chip characterisation of RF systems based on envelope response analysis [Preprint] Publicado en Electronics Letters, 2010, v. 46, no. 1. doi: 10.1049/el.2010.2644.es
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12008/38699-
dc.description.abstractA simple on-chip procedure for testing embedded RF blocks is presented. It is based on the detection and spectral analysis of the two-tone response envelope of the device under test (DUT). A main difference with similar methods is its inherent simplicity, avoiding a preprocessing stage and resorting to simpler circuitry to process the envelope. As a consequence, the main nonlinearity specifications of the DUT can be easily estimated from the envelope signal without the need of expensive RF test equipment.es
dc.languageenes
dc.rightsLas obras depositadas en el Repositorio se rigen por la Ordenanza de los Derechos de la Propiedad Intelectual de la Universidad De La República. (Res. Nº 91 de C.D.C. de 8/III/1994 – D.O. 7/IV/1994) y por la Ordenanza del Repositorio Abierto de la Universidad de la República (Res. Nº 16 de C.D.C. de 07/10/2014)es
dc.titleOn-chip characterization of RF systems based on envelope response analysises
dc.typePreprintes
dc.rights.licenceLicencia Creative Commons Atribución - No Comercial - Sin Derivadas (CC - By-NC-ND 4.0)es
Aparece en las colecciones: Publicaciones académicas y científicas - Instituto de Ingeniería Eléctrica

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