Consistent model for drain current mismatch in mosfets using the carrier number fluctuation theory

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Campo DC	Valor	Lengua/Idioma
dc.contributor.author	Klimach, H	es
dc.contributor.author	Arnaud, Alfredo	es
dc.contributor.author	Schneider, M. C	es
dc.contributor.author	Galup Montoro, Carlos	es
dc.date.accessioned	2019-07-03T16:36:21Z	-
dc.date.available	2019-07-03T16:36:21Z	-
dc.date.issued	2004	es
dc.date.submitted	20190703	es
dc.identifier.citation	Klimach, H., Arnaud, A., Schneider, M. C., Galup Montoro, C. Consistent model for drain current mismatch in mosfets using the carrier number fluctuation theory [en línea] IEEE International Symposium on Circuits and Systems, Vancouver, Canada, 2004. doi : 10.1109/ISCAS.2004.1329471	es
dc.identifier.uri	https://hdl.handle.net/20.500.12008/21286	-
dc.description	Postprint	es
dc.description.abstract	This work presents an approach for accurate MOS transistor matching calculation. Our model, which is based on an accurate physics-based MOSFET model, allows the assessment of mismatch from process parameters and valid for any operating region. Experimental results taken on a test set of transistors implemented in a 1.2 /spl mu/m CMOS technology corroborate the theoretical development of this work.	es
dc.language	en	es
dc.publisher	IEEE	es
dc.rights	Las obras depositadas en el Repositorio se rigen por la Ordenanza de los Derechos de la Propiedad Intelectual de la Universidad De La República. (Res. Nº 91 de C.D.C. de 8/III/1994 – D.O. 7/IV/1994) y por la Ordenanza del Repositorio Abierto de la Universidad de la República (Res. Nº 16 de C.D.C. de 07/10/2014)	es
dc.subject	MOSFET	es
dc.subject	Analog design	es
dc.subject	Matching	es
dc.subject	Compact models	es
dc.subject.other	ELECTRÓNICA	es
dc.title	Consistent model for drain current mismatch in mosfets using the carrier number fluctuation theory	es
dc.type	Artículo	es
dc.rights.licence	Licencia Creative Commons Atribución – No Comercial – Sin Derivadas (CC - By-NC-ND)	es
udelar.academic.department	Electrónica	-
udelar.investigation.group	Microelectrónica	-
Aparece en las colecciones:	Publicaciones académicas y científicas - Instituto de Ingeniería Eléctrica

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