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  1. Colibri
  2. Facultad de Ingeniería
  3. Instituto de Ingeniería Eléctrica
  4. Publicaciones académicas y científicas
Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: https://hdl.handle.net/20.500.12008/21283 Cómo citar
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Campo DC Valor Lengua/Idioma
dc.contributor.authorGalup Montoro, Carloses
dc.contributor.authorSchneider, M. Ces
dc.contributor.authorArnaud, Alfredoes
dc.contributor.authorKlimach, Hes
dc.date.accessioned2019-07-03T16:36:20Z-
dc.date.available2019-07-03T16:36:20Z-
dc.date.issued2004es
dc.date.submitted20190703es
dc.identifier.citationGalup Montoro, C, Schneider, M. C., Arnaud, A., Klimach, H. Self-consistent dc, ac, noise and mismatch models of the mosfet [online] TechConnect Briefs, 2004, v.2es
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12008/21283-
dc.descriptionTrabajo presentado en NSTI Nanotechnology Conference and Trade Show, 2004es
dc.description.abstractThis paper shows how the full compatibility of the ACM model with the quasi-Fermi potential formulation for the drain current allows the derivation of a very simple model of the MOSFET channel. As a result, consistent dc, ac, noise, and mismatch models for all operating modes of the MOSFET are described. Experimental results confirm the accuracy of both mismatch and noise models under various bias conditions.es
dc.languageenes
dc.rightsLas obras depositadas en el Repositorio se rigen por la Ordenanza de los Derechos de la Propiedad Intelectual de la Universidad De La República. (Res. Nº 91 de C.D.C. de 8/III/1994 – D.O. 7/IV/1994) y por la Ordenanza del Repositorio Abierto de la Universidad de la República (Res. Nº 16 de C.D.C. de 07/10/2014)es
dc.subjectMOSFETes
dc.subjectAnalog designes
dc.subjectMatchinges
dc.subjectNoisees
dc.subjectCompact modelses
dc.subject.otherELECTRÓNICAes
dc.titleSelf-consistent dc, ac, noise and mismatch models of the mosfetes
dc.typeArtículoes
dc.rights.licenceLicencia Creative Commons Atribución – No Comercial – Sin Derivadas (CC - By-NC-ND)es
udelar.academic.departmentElectrónica-
udelar.investigation.groupMicroelectrónica-
Aparece en las colecciones: Publicaciones académicas y científicas - Instituto de Ingeniería Eléctrica

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