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  1. Colibri
  2. Facultad de Ingeniería
  3. Instituto de Ingeniería Eléctrica
  4. Publicaciones académicas y científicas
Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: https://hdl.handle.net/20.500.12008/20852 Cómo citar
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Campo DC Valor Lengua/Idioma
dc.contributor.authorSlomovitz, Danieles
dc.contributor.authorJoskowicz, Josées
dc.date.accessioned2019-05-29T15:28:32Z-
dc.date.available2019-05-29T15:28:32Z-
dc.date.issued1990es
dc.date.submitted20190528es
dc.identifier.citationSlomovitz, Daniel, Joskowicz, José. Error evaluation of thermistor linearizing circuits [en línea] Measurement Science and Technology, 1990, v.1, no. 12es
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12008/20852-
dc.descriptionPostprintes
dc.description.abstractA simple designing method for linearizing circuits, based on one resistor, is presented. The errors caused by this circuit are calculated, considering the temperature range and the thermistor parameters. These errors are used as a basis for comparing the quality of active linearizing circuits. In many cases, complex circuits have similar errors to single resistor linearizing circuits. It is shown that the exponential approximation is one of the most important error sources. The authors propose to use more precise models. The relationship between the parameters of the exponential model and those of other models is discussed.es
dc.languageenes
dc.publisherIOPSciencees
dc.relation.ispartofMeasurement Science and Technology, 1990, v.1, no. 12es
dc.rightsLas obras depositadas en el Repositorio se rigen por la Ordenanza de los Derechos de la Propiedad Intelectual de la Universidad De La República. (Res. Nº 91 de C.D.C. de 8/III/1994 – D.O. 7/IV/1994) y por la Ordenanza del Repositorio Abierto de la Universidad de la República (Res. Nº 16 de C.D.C. de 07/10/2014)es
dc.titleError evaluation of thermistor linearizing circuitses
dc.typeArtículoes
dc.rights.licenceLicencia Creative Commons Atribución – No Comercial – Sin Derivadas (CC - By-NC-ND)es
dc.identifier.doiDOI: https://doi.org/10.1088/0957-0233/1/12/003es
Aparece en las colecciones: Publicaciones académicas y científicas - Instituto de Ingeniería Eléctrica

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