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Campo DC Valor Lengua/Idioma
dc.contributor.authorArnaud, Alfredoes
dc.contributor.authorForsyth, Des
dc.contributor.authorSun, Tes
dc.contributor.authorZhang, Z. Yes
dc.contributor.authorGrattan, K. T. Ves
dc.date.accessioned2019-05-29T15:28:20Z-
dc.date.available2019-05-29T15:28:20Z-
dc.date.issued2000es
dc.date.submitted20190528es
dc.identifier.citationArnaud, Alfredo, Forsyth, D., Sun, T., Zhang, Z. Y., Grattan, K. T. V. Strain and temperature effects on Erbium-doped fiber for decay-time based sensing [en línea] Review of Scientific Instruments, 2000, v. 71, no. 104es
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12008/20801-
dc.description.abstractAn experimental investigation into the strain and temperature sensitivity of the fluorescence decay time in commercial erbium-doped optical fiber has been carried out. Results show that a strain effect on the performance of temperature-based sensors using such fiber is larger than that for neodymium-doped fiber, but a little smaller than is seen in similar ytterbium-doped material. For the materials studied, the relative change in lifetime ranges from about 5×10−7 (for Yb) to 14×10−7 (for Nd) με−1 and the associated error in the temperature measurement ranges from 1.8×10−3 (for Nd) to 6.1×10−3 Kμε−1 for the Yb sample used. The application to simultaneous strain and temperature monitoring is discussed.es
dc.languageenes
dc.publisherAIP Publishinges
dc.relation.ispartofReview of Scientific Instruments, 2000, v. 71, no. 104es
dc.rightsLas obras depositadas en el Repositorio se rigen por la Ordenanza de los Derechos de la Propiedad Intelectual de la Universidad De La República. (Res. Nº 91 de C.D.C. de 8/III/1994 – D.O. 7/IV/1994) y por la Ordenanza del Repositorio Abierto de la Universidad de la República (Res. Nº 16 de C.D.C. de 07/10/2014)es
dc.subject.otherELECTRÓNICAes
dc.titleStrain and temperature effects on Erbium-doped fiber for decay-time based sensinges
dc.typeArtículoes
dc.rights.licenceLicencia Creative Commons Atribución – No Comercial – Sin Derivadas (CC - By-NC-ND)es
dc.identifier.doiDOI: https://doi.org/10.1063/1.1150169es
Aparece en las colecciones: Publicaciones académicas y científicas - Instituto de Ingeniería Eléctrica

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